Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «IEEE Transactions on Device and Materials Reliability» (ISSN 1530-4388) включён в белый список научных журналов (уровень 2) и базу Web of Science (SCIE, квартиль Q2) и базу Scopus, квартиль Q2.
Издатель: Institute of Electrical and Electronics Engineers (US).
Основные тематики по данным OpenAlex: Semiconductor materials and devices, Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Electronic Packaging and Soldering Technologies, Ferroelectric and Negative Capacitance Devices.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Включение в белый список подтверждает соответствие издания требованиям к публикациям по медицинским направлениям.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.