Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «IEEE Design and Test» (ISSN 2168-2356) включён в белый список научных журналов (уровень 2) и базу Web of Science (SCIE, квартиль Q2) и базу Scopus, квартиль Q2.
Издатель: Institute of Electrical and Electronics Engineers (US).
Основные тематики по данным OpenAlex: VLSI and Analog Circuit Testing, Diverse Scientific and Economic Studies, Ferroelectric and Negative Capacitance Devices, Human auditory perception and evaluation, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Включение в белый список подтверждает соответствие издания требованиям к публикациям по медицинским направлениям.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.