Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «Journal of Micro/Nanopatterning Materials and Metrology» (ISSN 2708-8340) включён в базу Scopus, квартиль Q2.
Основные тематики по данным OpenAlex: Advancements in Photolithography Techniques, Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Nanofabrication and Lithography Techniques, Optical Coatings and Gratings.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.