Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «Microscopy and Microanalysis» (ISSN 1431-9276) включён в белый список научных журналов (уровень 1) и базу Web of Science (SCIE, квартиль Q3) и базу Scopus, квартиль Q3.
Издатель: Oxford University Press (US).
Основные тематики по данным OpenAlex: Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques, Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications, Advanced Materials Characterization Techniques, Ion-surface interactions and analysis, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Включение в белый список подтверждает соответствие издания требованиям к публикациям по медицинским направлениям.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.