Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «Microelectronics Reliability» (ISSN 0026-2714) включён в белый список научных журналов (уровень 2) и базу Web of Science (SCIE, квартиль Q2) и базу Scopus, квартиль Q2.
Издатель: Elsevier BV (GB).
Основные тематики по данным OpenAlex: Semiconductor materials and devices, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design, Electronic Packaging and Soldering Technologies, Reliability and Maintenance Optimization.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Включение в белый список подтверждает соответствие издания требованиям к публикациям по медицинским направлениям.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.