Уважаемые авторы и читатели!
Научный журнал «Journal of Electronic Testing» (ISSN 0923-8174) включён в белый список научных журналов (уровень 3) и базу Web of Science (SCIE, квартиль Q3) и базу Scopus, квартиль Q3.
Издатель: Springer Science+Business Media (US).
Основные тематики по данным OpenAlex: VLSI and Analog Circuit Testing, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Radiation Effects in Electronics, Low-power high-performance VLSI design, VLSI and FPGA Design Techniques.
Журнал работает по модели закрытого доступа.
Включение в белый список подтверждает соответствие издания требованиям к публикациям по медицинским направлениям.
Ниже приведены официальные ссылки и справочные сведения для подготовки рукописи и проверки актуальности журнала.